第230节 充电技术研发和测试-《芯片产业帝国》
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oppo 的充电技术具有一套定制的电路、电芯、接口、数据线,配以智能 mcu 芯片的充电器。其把恒流电路、恒压电路、温度检测电路以及各类保护电路都设计在了充电器,在手机内部仅有一个限流电阻,防止充电电流过大...
mtk 的快充技术有两种规格,一种是 pump express,另一种就是 pump express plus。内置于手机内部的电源管理芯片(per ic,pmic),通过pump express plus,pump express 协议,允许适配器根据电流决定充电所需要的初始电压,pmic通过 usb 连接线的 vbus 把指令传输给适配器...,
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李飞把四种快速充电技术写在写字板,进一步解释…,再根据四个类型,研发出大深市芯片产业有限公司的快充芯片,并直接写出快充主控芯片的规格:
芯片封装:qfn
mp3充电的输入电压和电流:6v/6a(快充),3.7v/300ma(慢充)
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确定快充主控芯片的规格后,那么,就要开始芯片设计,交给芯片多媒体技术1部和2部共同完全,李飞提高芯片技术指导。
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很快,快充主控芯片设计完成,发给台积电流片打样…
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那么,在快充主控芯片打样期间,就要准备快充的电子电路设计,在pcb板极电子电路图的设计中,使用的板极eda软件,是分为两种功能软件:逻辑电路软件和pcb layout软件…
首先,在逻辑eda软件绘制器件的逻辑封装,再画出逻辑电路图,而这个逻辑电路图是根据u盘的整个模块功能进行设计的。不过,需要说明的是,在绘制逻辑封装和电路图设计时,相关器件的资料一定要向供应商索取,去确定电子器件的参数,
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在逻辑eda软件绘制完逻辑电路图后,接下来的工作,就是在pcb eda软件对器件进行pcb封装制作,包括快充主控芯片,mos管的封装,二极管封装…,同样,pcb封装是需要按照供应商提供的器件参数进行设计的…
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在pcb eda软件里制作好pcb器件封装后,然后,就是逻辑eda软件和pcb eda软件进行同步更新,把逻辑eda的电路图导入到pcb eda软件…,这样的话,就可以在pcb eda软件里,出现了pcb封装器件和连接电路线路,
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接着在pcb eda软件,进行布局,走线,完成后,进行连接和规则检测,确定没有错误后,在pcb eda软件输出制造pcb加工文件,发给板厂进行pcb制作。
完成快充主控芯片的电子电路设计后,就下了就是整理快充主控芯片电子物料bom单子,供成本核算和电子物料准备
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很快三周后,从台积电生产打样的100片快充主控芯片回到公司,那么,接下来就是快充主控芯片测试过程,
快充主控芯片放入ate仪器的测试台内的芯片插座后,打开仪器电源按钮,然后,确定ate仪器与u盘主控芯片连接正常,再开始进行芯片测试,
ate对芯片测试基本的范围为:芯片引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,芯片引脚dc(直流)测试,芯片功能测试,芯片esd静电测试,芯片老化测试(也就是芯片质量验证)
以及芯片稳定性测试,在温度(零下30度和高温50度)进行测试,确定芯片是否能正常工作…
先是对快充主控芯片的引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,dc(直流)测试,这是芯片测试的第一步,检测快充主控芯片的连通性是否正常,确定快充主控芯片的内部电路连通,芯片内部电路是否有缺陷。
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在对快充主控芯片测试的同时,整机电路的测试也要同步,把快充主控芯片的电子元器件,电阻电容,焊接到pcb主板,先是测试pcb主板电流和电压问题,包括快充主控芯片的性能和功能
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快充主控芯片功能测试合格后,还要需要老化测试范围包括:温度,环境,电压,跌落…,例如电压测试:加速的方式进行测试,把温度突然提高到50度,外接的电压从正常工作电压5v突然提高到7v,进行长达3小时,甚至20小时或者30小时的老化测试,
如果没有任何的芯片和电子电路出现问题,那么,测试合格...。
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